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CL21-250V-474J薄膜電容

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CL21-250V-474J薄膜電容詳細(xì)參數(shù)

所屬分類:金屬薄膜電容器
產(chǎn)品型號(hào):CL21-250V-474J
溫度特性:聚乙酯
電容量:0.47μF
標(biāo)準(zhǔn)偏差:J±5%
本體直徑:18mm
本體厚度:14mm
本體高度:8mm
引線間距:15mm
引線長(zhǎng)度:3~20mm
引線直徑:0.8mm
包封長(zhǎng)度:無(wú)mm
額定電壓:250VDC
耐壓:462.5V
更新時(shí)間:
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  • CL21-250V-474J薄膜電容相關(guān)信息

類型一:輸入電容爆漿

對(duì)于輸入電容來(lái)說(shuō),就是在電源電路中體積較大、容易較大、額定電壓高的電容器,對(duì)接收到的電流進(jìn)行過(guò)濾。輸入電容爆漿和電源輸入電流及電容器本身的品質(zhì)有關(guān)。過(guò)多的毛刺電壓,峰值電壓過(guò)高,電流不穩(wěn)定等都使電容過(guò)于充放電過(guò)于頻繁,長(zhǎng)時(shí)間處于這類工作環(huán)境下的電容,內(nèi)部溫度升高很快,超過(guò)泄爆口的承受極限就會(huì)發(fā)生爆漿。

類型二:輸出電容爆漿

對(duì)于輸出電容來(lái)說(shuō),對(duì)經(jīng)電源模塊調(diào)整后的電流進(jìn)行濾波與儲(chǔ)能。此處電流經(jīng)過(guò)一次過(guò)濾,比較平穩(wěn),發(fā)生爆漿的可能性相對(duì)來(lái)說(shuō)小了不少。但如果環(huán)境溫度過(guò)高,電容同樣容易發(fā)生爆漿。

造成電容爆漿的原因有很多,比如電流大于允許的穩(wěn)波電流、使用電壓超出工作電壓、逆向電壓、頻繁的充放電等。但是最直接的原因就是高溫。我們知道電容有一個(gè)重要的參數(shù)就是耐溫值,指的就是電容內(nèi)部電解液的沸點(diǎn)。當(dāng)電容的內(nèi)部溫度達(dá)到電解液的沸點(diǎn)時(shí),電解液開(kāi)始沸騰,電容內(nèi)部的壓力升高,當(dāng)壓力超過(guò)泄爆口的承受極限就發(fā)生了爆漿。所以說(shuō)溫度是導(dǎo)致電容爆漿的直接原因。

小編了解到電容設(shè)計(jì)使用壽命大約為2萬(wàn)小時(shí),受環(huán)境溫度的影響也很大。電容的使用壽命隨溫度的增加而減小,實(shí)驗(yàn)證明環(huán)境溫度每升高10℃,電容的壽命就會(huì)減半。主要原因就是溫度加速化學(xué)反應(yīng)而使介質(zhì)隨時(shí)間退化失效,這樣電容壽命終結(jié)。為了保證電容的穩(wěn)定性,電容在插板前要經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的高溫環(huán)境的測(cè)試。即使是在100℃,高品質(zhì)的電容也可以工作幾千個(gè)小時(shí)。同時(shí),我們提到的電容的壽命是指電容在使用過(guò)程中,電容容量不會(huì)超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)范圍變化的10%。電容壽命指的是電容容量的問(wèn)題,而不是設(shè)計(jì)壽命到達(dá)之后就發(fā)生爆漿。只是無(wú)法保證電容的設(shè)計(jì)的容量標(biāo)準(zhǔn)。

所以,短時(shí)期內(nèi),正常使用的板卡電容就發(fā)生爆漿的情況,這就是電容品質(zhì)問(wèn)題。另外,不正常的使用情況也有可能發(fā)生電容爆漿的情況。比如熱插拔電腦配件也會(huì)導(dǎo)致板卡局部電路電流、電壓的劇烈變化,從而引發(fā)電容使用故障。

關(guān)鍵詞:CL21電容器474J250VDC0.47μF聚乙酯5%,薄膜電容474J,CL21電容

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