薄膜電容器在高頻狀態(tài)下的損耗主要是金屬損耗，主要有:電容器引出線損耗、電容器極板損耗以及接觸損耗。現(xiàn)在薄膜電容器使用的引出線為鍍錫銅包鋼線或鍍錫銅線，它們自身的損耗極小，可忽略不計(jì)。所以高頻條件下薄膜電容器的損耗主要是極板損耗以及接觸損耗。在薄膜電容器生產(chǎn)過(guò)程中，注重從以下幾方面解決。

1）箔式薄膜電容器使用的電極材料是鋁箔，要求其厚度均勻、導(dǎo)電性良好、沒(méi)有腐蝕現(xiàn)象鋁箔端面沒(méi)有磕碰。

2）金屬化薄膜電容器使用的材料是金屬化薄膜，它是把金屬鋁（或其它金屬）用真空蒸發(fā)方式沉積在介質(zhì)表面，這樣可縮小電容器的體積，提高電容器的自愈性，降低電容器的成本。但是由于薄膜在真空蒸鍍過(guò)程中或是金屬化薄膜在分切過(guò)程中以及卷繞電容器芯子過(guò)程中容易出現(xiàn)薄膜的金屬化層劃傷，這對(duì)金屬化薄膜電容器是致命的傷害，它將導(dǎo)致電容器極板耗的增加用戶上機(jī)使用這樣的電容器后果非常嚴(yán)重，要堅(jiān)決禁止這樣的電容器出廠。

作為薄膜電容廠家我們會(huì)加強(qiáng)入廠金屬化薄膜的抽樣檢驗(yàn)，除對(duì)金屬化薄膜的電性能、厚度、寬度、外觀、金屬層的方阻檢驗(yàn)外，還要檢驗(yàn)薄膜上金屬層的附著力、金屬層上是否有疵點(diǎn)以及金屬層上是否有劃傷。不合格原材料不能進(jìn)廠。

其次要加強(qiáng)卷繞工序生產(chǎn)過(guò)程中檢驗(yàn)和巡檢，電容器芯子經(jīng)過(guò)的檢查，合格后才能批量生

產(chǎn)；在批量生產(chǎn)過(guò)程中，加強(qiáng)對(duì)電容器芯子的巡檢，發(fā)現(xiàn)問(wèn)題及時(shí)解決，保證卷繞工序的產(chǎn)品質(zhì)。對(duì)于要末髙頻損耗的薄膜電容器，工序抽檢其損耗，在抽檢過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)異常，要及時(shí)對(duì)該批產(chǎn)品進(jìn)行試驗(yàn)，試驗(yàn)合格下轉(zhuǎn)，如果試驗(yàn)不合格，該批產(chǎn)品要進(jìn)行降級(jí)或報(bào)廢處理。