薄膜電容器在高頻狀態(tài)下的損耗主要是金屬損耗，主要有:電容器引出線損耗、電容器極板損耗以及接觸損耗。現(xiàn)在薄膜電容器使用的引出線為鍍錫銅包鋼線或鍍錫銅線，它們自身的損耗極小，可忽略不計。所以高頻條件下薄膜電容器的損耗主要是極板損耗以及接觸損耗。在薄膜電容器生產(chǎn)過程中，注重從以下幾方面解決。

1）箔式薄膜電容器使用的電極材料是鋁箔，要求其厚度均勻、導(dǎo)電性良好、沒有腐蝕現(xiàn)象鋁箔端面沒有磕碰。

2）金屬化薄膜電容器使用的材料是金屬化薄膜，它是把金屬鋁（或其它金屬）用真空蒸發(fā)方式沉積在介質(zhì)表面，這樣可縮小電容器的體積，提高電容器的自愈性，降低電容器的成本。但是由于薄膜在真空蒸鍍過程中或是金屬化薄膜在分切過程中以及卷繞電容器芯子過程中容易出現(xiàn)薄膜的金屬化層劃傷，這對金屬化薄膜電容器是致命的傷害，它將導(dǎo)致電容器極板耗的增加用戶上機使用這樣的電容器后果非常嚴(yán)重，要堅決禁止這樣的電容器出廠。

作為薄膜電容廠家我們會加強入廠金屬化薄膜的抽樣檢驗，除對金屬化薄膜的電性能、厚度、寬度、外觀、金屬層的方阻檢驗外，還要檢驗薄膜上金屬層的附著力、金屬層上是否有疵點以及金屬層上是否有劃傷。不合格原材料不能進廠。

其次要加強卷繞工序生產(chǎn)過程中檢驗和巡檢，電容器芯子經(jīng)過的檢查，合格后才能批量生

產(chǎn)；在批量生產(chǎn)過程中，加強對電容器芯子的巡檢，發(fā)現(xiàn)問題及時解決，保證卷繞工序的產(chǎn)品質(zhì)。對于要末髙頻損耗的薄膜電容器，工序抽檢其損耗，在抽檢過程中，發(fā)現(xiàn)異常，要及時對該批產(chǎn)品進行試驗，試驗合格下轉(zhuǎn)，如果試驗不合格，該批產(chǎn)品要進行降級或報廢處理。